株式会社ミツトヨ（代表取締役社長：沼田恵明）は、2025年12月１7日(水)から12月19日(金)まで、東京ビッグサイトにて開催される展示会「SEMICON Japan2025」に出展し測定機のソリューションなどを紹介します。
[画像1: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/31/114528-31-1a7c667f53c470d73e41bbfa662b62fc-3900x2194.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
SEMICON JapanはSEMIが主催する半導体をメインとした展示会です。ミツトヨブースでは『「測れない」を「測れる」へ、「測りにくい」を「測りやすい」へ、現場に測定の力を』をコンセプトに掲げ半導体製造工程の生産性向上を実現する各種ソリューションを紹介します。
ご来場の際には、事前に主催者ホームページより来場事前登録（登録無料）をお願いいたします。
開催概要
[表: https://prtimes.jp/data/corp/114528/table/31_1_919c7ebca66450dd57909b354c530fd9.jpg?v=202511280147 ]出展製品
●非接触３D計測システム クイックビジョンWLI Proシリーズ[画像2: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/31/114528-31-89311ce1af1b2b82bdc5ea92d86265fc-3900x2638.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
クイックビジョンWLI Pro
白色光干渉による微細形状測定、表面性状評価をご提案いたします。
●非接触変異センサ搭載CNC画像測定機 クイックビジョン HYBRID Type4
ガラス基板の測定における高精度・ハイスループットを実現するご提案をいたします。
●CNC画像測定機 クイックビジョンProシリーズ
ハイスループット測定による測定効率の向上をご対案いたします
●白色光干渉光学ユニット WLI-Unit
●白色干渉測定用対物レンズ WLI Plan Apoシリーズ
[画像3: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/31/114528-31-0876612ec230d00f5be8400d5e0c81db-2737x1940.png?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
WLI-Unit本体
白色光干渉による３Ｄ形状測定を手軽に導入いただけるご提案をいたします。
●焦点距離可変レンズ TAGLENS
[画像4: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/31/114528-31-5471f927c80ae8d087c308637fe95578-738x600.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
TAGLENS本体部
●装置組込顕微鏡ユニット ＶＭＵシリーズ
[画像5: https://prcdn.freetls.fastly.net/release_image/114528/31/114528-31-3094b08b790abdf14af12dea71418c81-3900x3899.jpg?width=536&quality=85%2C75&format=jpeg&auto=webp&fit=bounds&bg-color=fff ]
様々な観察手法に対応するラインアップからアプリケーション例をご提案いたします。
※本リリースの内容は発表時のものになります。
最新の情報と異なる場合がございますのでご了承ください。
